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Joule: 分子互補鈍化 無HTL PSC破26%效率紀(jì)錄

發(fā)表時間:2025/5/26 17:41:41

研究成就及看點

南方科技大學(xué)何祝兵教授團(tuán)隊聯(lián)合澳門大學(xué)邢貴川教授、南方科技大學(xué)范靖教授等,在頂級期刊Joule上發(fā)表了一項突破性研究,文章標(biāo)題為"Enhancing electron transport for efficiency -recorded HTL-free inverted perovskite solar cells by molecular complementary passivation",成功開發(fā)分子互補鈍化(MCP)策略,有效解決無HTL反式鈣鈦礦太陽能電池的界面缺陷問題。該策略結(jié)合丙基膦酸3-氨基溴鹽PPAABr和苯乙基溴化銨PEABr,協(xié)同鈍化碘和甲脒空位,并填充FA空位,從而降低缺陷密度、提升載流子壽命并優(yōu)化能級,促進(jìn)電子提取。藉由MCP策略,研究團(tuán)隊創(chuàng)下HTL反式鈣鈦礦太陽能電池26.40%(認(rèn)證25.92%的效率紀(jì)錄,并實現(xiàn)優(yōu)異的器件穩(wěn)定性1000小時光照后保持94.8%效率)。該策略亦在1.68 eV寬能隙鈣鈦礦太陽能電池中取得23.66%的效率,可與其他優(yōu)秀的研究成果相媲美,展現(xiàn)其廣泛的適用性。

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研究團(tuán)隊

這項開創(chuàng)性研究由以下機構(gòu)的重要研究者共同完成:

南方科技大學(xué)(Southern University of Science and Technology, SUSTech

澳門大學(xué)(University of Macau

其中,通訊作者為南方科技大學(xué)材料科學(xué)與工程系的何祝兵教授


研究背景

早期研究側(cè)重于改善鈣鈦礦薄膜質(zhì)量和開發(fā)p型摻雜策略,例如摻入 CuSCNCuI 等,或引入 SAMs Me-4PACz2PACz,以及何祝兵團(tuán)隊先前開發(fā)的 DMAcPA,主要著力于改善鈣鈦礦本體及與 ITO 電極的界面特性。

然而,深入研究后發(fā)現(xiàn),鈣鈦礦與電子傳輸層(ETL)的頂部界面管理也同樣重要。此界面易形成碘空位(VI)和甲脒空位(VFA)等深能級缺陷,導(dǎo)致嚴(yán)重的非輻射復(fù)合,成為效能和穩(wěn)定性的主要瓶頸。盡管有研究嘗試使用單一分子進(jìn)行鈍化,但由于界面化學(xué)環(huán)境復(fù)雜,單一分子的效果往往有限,難以同時解決所有缺陷問題。此外,大尺寸銨陽離子可能無法形成均勻完整的 2D 鈣鈦礦表面層,留下殘余缺陷位點。

因此,設(shè)計具有特定功能的多分子組合策略,以有效鈍化鈣鈦礦/ETL 界面并調(diào)控能級,成為提升無HTL反式PSC性能的關(guān)鍵挑戰(zhàn)。

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解決方案

針對上述挑戰(zhàn),研究團(tuán)隊創(chuàng)新性地提出了分子互補鈍化(MCP)策略。該策略的核心思想是利用兩種具有互補化學(xué)功能的分子——丙基膦酸3-氨基溴鹽(PPAABr)苯乙基溴化銨(PEABr),協(xié)同作用于鈣鈦礦/ETL界面。

PPAABr的雙功能性 PPAABr分子包含一個膦酸基團(tuán)(–PO(OH)2)銨基團(tuán)(–NH3+)。通過DFT計算和實驗表征,研究團(tuán)隊預(yù)期并證實膦酸基團(tuán)中的**P=O部分能夠與鈣鈦礦表面因碘空位暴露的鉛離子(Pb)形成強的配位鍵(dative bond),有效鈍化VI缺陷。同時,–NH3+基團(tuán)則可以通過靜電相互作用和可能的氫鍵與鈣鈦礦表面的碘離子結(jié)合。此外,PPAA+的–NH3+**基團(tuán)與FA+具有相同的電荷和相似的結(jié)構(gòu),因此也能有效填充FA空位(VFA)。

PEABr的輔助鈍化: 苯乙基溴化銨(PEABr)是一種常用的界面修飾劑,其較大的苯乙基銨陽離子(PEA+)主要通過填充鈣鈦礦表面的FA空位來實現(xiàn)鈍化。研究團(tuán)隊將PEABrPPAABr結(jié)合使用,旨在實現(xiàn)對FA空位的更全面鈍化,并可能在鈣鈦礦表面形成一層薄的、具有鈍化作用的類二維結(jié)構(gòu)。

費米能級調(diào)控: 研究團(tuán)隊還預(yù)期,通過MCP處理,可以有效調(diào)控鈣鈦礦表面的電子能級結(jié)構(gòu),將表面費米能級推向更接近ETLPC61BM)的能級,從而促進(jìn)電子的有效抽取,減少界面電荷積累和非輻射復(fù)合。

通過這兩種分子的協(xié)同作用,MCP策略旨在實現(xiàn)對鈣鈦礦表面多種缺陷的有效鈍化,優(yōu)化界面能級排列,最終提升無HTL反式鈣鈦礦太陽能電池的效率和穩(wěn)定性。

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實驗步驟與過程

1.PPAABr分子的合成與表征:首先按照既定的化學(xué)反應(yīng)路線合成了丙基膦酸3-氨基溴鹽(PPAABr)。通過核磁共振以及質(zhì)譜等手段對合成的PPAABr分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行了確證。

2.鈣鈦礦薄膜的制備:研究中使用的鈣鈦礦組成是(FA0.95Cs0.05PbI3)0.96(MAPbBr3)0.04,并摻雜了DMAcPA。采用旋涂法在ITO玻璃基板上制備了鈣鈦礦薄膜,并在最后階段滴加氯苯(CB)作為反溶劑以優(yōu)化薄膜的結(jié)晶質(zhì)量。為了增強薄膜的結(jié)晶性,在前驅(qū)體溶液中加入了甲基氯化銨(MACl)。

3.表面鈍化處理:

○對照組(Control): 在制備好的鈣鈦礦薄膜表面旋涂濃度為1 mg/mLPEABr異丙醇/二甲亞砜(IPA/DMSO,體積比200:1)混合溶液,然后在100℃下退火5分鐘。

MCP處理組: 將PEABr1 mg/mL)和PPAABr0.3 mg/mL)溶解在IPA/DMSO200:1)混合溶劑中,然后將混合溶液旋涂在制備好的鈣鈦礦薄膜表面,隨后在100℃下退火5分鐘。

為了進(jìn)行對比研究,研究團(tuán)隊還制備了僅使用PPAABrPPAAI進(jìn)行表面處理的器件。

4.器件的制備: 在經(jīng)過表面處理的鈣鈦礦薄膜上,依次旋涂電子傳輸層PC61BM20 mg/mL的氯苯溶液),并在100℃下退火10分鐘,然后旋涂緩沖層BCP0.5 mg/mL的異丙醇溶液)。最后,通過熱蒸發(fā)在頂部沉積100 nm厚的銀(Ag)電極,完成器件的制備。為了提高器件的透光性,研究團(tuán)隊還在ITO基板的背面沉積了一層120 nm厚的氟化鎂(MgF2)增透膜。

研究成果與表征

電流密度-電壓 (J-V) 曲線量測

研究團(tuán)隊使用EnlitechAM 1.5 G 模擬光源進(jìn)行 J-V 曲線量測。

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推薦使用光焱科技Enlitech SS-X AM1.5G 標(biāo)準(zhǔn)光譜太陽光模擬器,AM1.5G濾光片采用先進(jìn)的電漿沉積技術(shù)制造,具有高光譜準(zhǔn)確性和優(yōu)異的耐用性,使用壽命延長三倍

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4A顯示了對照組和 MCP 器件的正向和反向掃描 J-V 曲線。MCP 器件獲得了 26.40% PCE (25.92% 已認(rèn)證)VOC 1.168 VJSC 26.19 mA cm?2FF 86.3%,相較之下,對照組的最佳 PCE 25.12%MCP 器件還表現(xiàn)出明顯更低的遲滯效應(yīng) (0.64%),而對照組為 2.59%

外量子效率 (EQE) 光譜量測

研究團(tuán)隊使用 Enlitech QE-R 3011 EQE 系統(tǒng)進(jìn)行量測。從 EQE 光譜積分得到的短路電流密度與 J-V 曲線測得的 JSC 高度吻合

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推薦使用Enlitech QE-R量子效率光學(xué)儀,被500多個優(yōu)秀太陽能電池研究實驗室采用,近10年發(fā)表SCI論文1000余篇,包括NatureScienceJouleAdvanced Materials等多家旗艦期刊。

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4C 顯示了 MCP器件的 EQE 光譜以及積分得到的 JSC 值。該光譜在整個測量波長范圍內(nèi)都顯示出光響應(yīng),并且在大部分波長范圍內(nèi)具有較高的效率值。積分得到的 JSC 值與 J-V 曲線測得的數(shù)值接近,驗證了 J-V 測量的可靠性。

紫外線光電子能譜 (UPS)

測量材料的功函數(shù)和價帶頂 (VBM) 能級,進(jìn)而推斷費米能級的位置。UPS 結(jié)果表明,MCP 處理后,鈣鈦礦薄膜頂表面的功函數(shù)從 4.62 eV 降低到 4.37 eV

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3H:結(jié)合吸收光譜的 Tauc 圖。確定的光學(xué)帶隙為 1.53 eV,推斷出 MCP 處理將鈣鈦礦的表面費米能級 (EF) 推向了更淺的能級,使其更接近 n 型特性,并更靠近 ETL (PC61BM) 的費米能級 。這有助于增強鈣鈦礦薄膜內(nèi)的建場,促進(jìn)電子-空穴對的分離,并有利于電子在鈣鈦礦/PC61BM 界面的提取。

X射線光電子能譜 (XPS):用于分析鈣鈦礦薄膜表面的元素組成和化學(xué)態(tài)。XPS 被用于驗證 PPAABr 分子與鈣鈦礦表面缺陷(碘空位 VI FA 空位 VFA)之間的化學(xué)相互作用

1F 1G XPS 光譜顯示了 O 1sPb 4f I 3d 的核心能級變化,證明了 –P=O 基團(tuán)與 Pb 的配位鍵形成,以及氫鍵的形成,從而證實了 PPAABr 對表面缺陷的有效鈍化作用。缺陷鈍化是提升器件性能的核心機制之一。

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時域光致發(fā)光光譜 (TRPL) 穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜 (PL):這兩種光譜技術(shù)被用于評估 MCP 處理對鈣鈦礦薄膜光電性質(zhì)的影響TRPL 測量激發(fā)態(tài)載流子的壽命,而 PL 強度則反映了非輻射復(fù)合的程度

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2A TRPL 結(jié)果顯示,經(jīng)過 MCP 處理后,鈣鈦礦薄膜的激子壽命顯著增加 S8A PL 強度也顯著增強,這些都直接證明了 MCP 策略有效地鈍化了表面缺陷,減少了非輻射復(fù)合,從而提升了材料的光電性能,這直接關(guān)聯(lián)到最終的器件效率提升。

開爾文探針原子力顯微鏡 (KPFM)

KPFM 測量的表面電勢成像 ( 3B 3E) 和表面電勢線掃描 ( 3C 3F) 表明,MCP 處理后鈣鈦礦薄膜的平均表面電勢從 -65 mV 顯著變?yōu)?/span> -532 mV (相對于金參考)。這再次確認(rèn)了鈣鈦礦頂表面功函數(shù)的降低 (更淺的能級)。接觸電勢差 (ΔVCPD) 33 mV 降低到 25 mV,這歸因于 PPAABr 填充到晶界中,使電勢更加均勻。

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其他表征

電化學(xué)阻抗譜 (EIS)用于分析器件的電阻特性和載流子復(fù)合。圖 5D EIS 結(jié)果顯示,MCP 處理后器件的復(fù)合電阻 (Rrec) 增加,表明陷阱輔助復(fù)合受到抑制,這與缺陷鈍化的結(jié)果一致,并有助于提升 VOC FF

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空間電荷限制電流 (SCLC)用于估算鈣鈦礦薄膜中的陷阱態(tài)密度 (trap-state density)。圖 5E SCLC 結(jié)果顯示,MCP 處理后鈣鈦礦薄膜的陷阱態(tài)密度明顯降低,直接證明了 MCP 策略的缺陷鈍化效果。

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莫特-肖特基 (Mott-Schottky, M-S) 分析:用于研究器件的內(nèi)建電場 (built-in field) 5F M-S 結(jié)果顯示,MCP 處理后內(nèi)建電場有所增強,這有助于光生載流子的分離和傳輸,與 VOC 的提升相符。

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結(jié)論

研究團(tuán)隊開發(fā)了一種分子互補鈍化 (Molecular Complementary Passivation, MCP) 策略,并將其應(yīng)用于無電洞傳輸層 (HTL-free) 的反式鈣鈦礦太陽能電池 (PSCs)成功打破了此類器件的效率紀(jì)錄,達(dá)到 26.40% (25.92% 已認(rèn)證)

創(chuàng)紀(jì)錄的效率提升:透過 MCP 策略,HTL-free PSCs 的功率轉(zhuǎn)換效率顯著提升至 26.40% (25.92% 已認(rèn)證),相較于控制組的 25.12% 有明顯進(jìn)步。這代表了在簡化器件結(jié)構(gòu)、降低成本的 HTL-free PSCs 領(lǐng)域取得了重大突破。

有效的表面缺陷鈍化MCP 策略利用丙基膦酸 3-銨溴化物 (PPAABr) 苯乙基銨溴化物 (PEABr) 協(xié)同作用,有效地鈍化了鈣鈦礦薄膜表面的碘空位 (VI) 和甲脒空位 (VFA) 等典型缺陷。透過多重配位作用,降低了接口缺陷態(tài)密度,改善了鈣鈦礦薄膜的激子和載流子壽命。

優(yōu)化的能級排列MCP 表面處理將鈣鈦礦表面的費米能階推向更靠近電子傳輸層 (ETL, PC61BM) 的費米能階。這種更有利的能級排列增強了接口的電子提取效率,減少了能量損失。

改善的器件性能參數(shù):相較于控制組,采用 MCP 策略的器件展現(xiàn)出更高的填充因子 (FF) 86.3%更低的開路電壓損失 (VOC loss) 362 mV。同時,器件的遲滯效應(yīng)也明顯降低。

提升的器件穩(wěn)定性:封裝后的 MCP 器件在連續(xù)光照 1000 小時后仍保持其初始效率的 94.8%,且在濕熱測試 500 小時后仍保持 92.4% 的初始效率。這表明 MCP 策略不僅提升了效率,也顯著改善了器件的長期穩(wěn)定性。

策略的通用性:研究證明,MCP 策略也適用于寬能隙 (1.68 eV) 鈣鈦礦太陽能電池,并取得了競爭性的 23.66% 的效率,驗證了該策略的廣泛適用性。



文獻(xiàn)參考自Joule_DOI: 10.1016/j.joule.2025.101880

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